扫描电子显微镜

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    使用者
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    总次数
  • 3848/小时
    总时长
  • 18/人
    收藏者

收费标准

机时
600元/小时
送样
详见检测项目

设备型号

当前状态

管理员

魏伟伟,徐妙

放置地点

芯片加工中心二期1F
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名称

扫描电子显微镜

资产编号

S2008984

型号

规格

产地

厂家

所属品牌

出产日期

购买日期

所属单位

深圳国际量子研究院

使用性质

科研

所属分类

分析表征类

资产负责人

魏伟伟

联系电话

联系邮箱

放置地点

芯片加工中心二期1F
  • 主要规格&技术指标
  • 主要功能及特色
主要规格&技术指标
最大视野范围:50 mm
可装载最大样品尺寸:直径250 mm,高度50 mm
加速电压:0.02 kV - 30 kV
放大倍率:12倍 – 200万倍
二次电子分辨率:≤0.7 nm@15 kV, ≤1.2 nm@30 kV
样品图移动范围:X轴:130 mm; Y 轴:130 mm;Z轴:50 mm
样品最大倾斜角度:70°
电子束最大位移量:200 μm
主要功能及特色
InLense SE:高分辨二次电子探测器,可用于高分辨形貌观察;
ET-SE:样品室内二次电子探测器,可用于样品表面微观区域的结构观察;
aBSD: 样品室内可抽拉式六分割背散射电子探测器,可用于样品成分衬度观察;
牛津能谱仪系统(EDX): 可对能量谱图进行分析,得到样品的元素成分与含量;
阴极荧光光谱仪(CL): 激发波长为270 - 900 nm,对材料的发光特性开展定性定量研究
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